웨비나 개요

오늘 날 이동통신시스템의 핵심 부품중의 하나인 고성능 RF 디바이스를 연구/설계하는데 있어 큰 어려움 중의 하나가 디바이스의 비선형 특성을 특성화하는 것입니다. 능동 디바이스의 이러한 비선형 특성으로 인해 동작 영역이 제한을 받으며, 디바이스의 활용도를 떨어뜨리고 간섭 신호를 발생하며 가용한 대역폭을 제한합니다. 현재 많은 RF 디자이너들은 능동 디바이스의 비선형 구간에서 측정, 모델링 및 설계를 하려고 합니다. 하지만 현재의 소신호 측정 장비로는 이를 정확하게 측정하기가 매우 어려웠습니다. 보통의 경우 수동소자는 S-parameter로 대변되는 선형구간에서의 특성 즉, 소신호 분석(Small signal analysis)으로 특성을 나타낼 수 있습니다. 하지만 능동소자의 경우 선형구간의 특성(소신호 분석)뿐만 아니라 비선형 특성의 분석, 대신호 분석(Large signal analysis) 도 필요합니다. 애질런트에서는 2008년 디바이스의 비선형특성을 측정할 수 있는 혁신적인 NVNA(Nonlinear Vector Network Analyzer)를 소개하였고, 비선형 디바이스의 대신호 분석 파라메터로 기존에 사용되고 있는 S-parameter를 포함하고 이를 확장한 새로운 개념의 X-parameter를 소개하였습니다. 국내에서도 몇 번의 세미나 및 관련 매체를 통해 소개드렸지만 아직도 많은 분들에게 낮설고 생소한 어플리케이션입니다. 따라서, 보다 많은 분들이 참석하실 수 있도록 웹 세미나 형식으로 NVNA 어플리케이션과 X-parameter에 대해 소개하고자 합니다. 이번 발표에서는 능동소자를 모델링하고 설계하고 분석하기 위한 애질런트의 새로운 NVNA 측정 어플리케이션과 X-parameter 개념에 대해 다루게 됩니다. 애질런트의 새로운 Non-linear VNA를 이용한 능동소자가 순차적으로 연결된 모듈의 대신호 분석(Large signal analysis, Nonlinear analysis) 방법과 X-parameter에 대해 소개합니다.
1. Nonlinear Vector Network Analyzer 어플리케이션 (What does it do?)
2. 디바이스들의 특성(선형특성과 비선형특성)
3. NVNA(Nonlinear Vector Network Analyzer) 하드웨어
4. NVNA(Nonlinear Vector Network Analyzer) 측정 - Component Characterization - Multi-Envelope Domain - X-Parameters

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