웨비나 개요

케이블, PCB 보드, 반도체 모듈/칩 등을 디자인하고 양산하는 전자 및 반도체 업체에서는, 수 천개 이상의 채널을 빠른 시간 안에 양불 판정을 해야 합니다. 이를 위해서 가장 비용 효율적인 방법이, 전기적인 Open/Short 테스트 입니다. 이번 웹 세미나에서는, NI SMU(Source Measurement Unit) 와 Switch 모듈을 사용하여 구성한, 멀티채널 Open/Short 테스트 솔루션을 확인할 수 있으며, 나아가서 LabVIEW 와 NI 테스트 매니지먼트 SW(TestStand)를 활용하여, 다양한 DUT 에도 유연하게 적용가능한 테스트 솔루션을 확인하실 수 있습니다. - 반도체 웨이퍼/패키지 레벨 Open/Short 테스트(LabVIEW & TestStand 활용) - 개발부터 양산까지 활용 가능한 유연한 NI PXI 플랫폼 - Probe station / Handler 와 통합 자동화 시스템 구성

웨비나 상품

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