웨비나 개요

안녕하십니까 한국내쇼날인스트루먼트의 이동희입니다.

본 세미나에서는 최근 새롭게 출시된 NI STS 반도체 테스트 플랫폼의 구조와 더불어 PXI와 RF 계측기의 장점을 소개합니다.

최근 사물인터넷, IoT가 업계의 화두로 떠오르면서 각종 RFIC, MEMS Sensor, PMIC와 같은 비메모리 반도체의 개발과 생산이 급증하고 있습니다. 이에 따라 빠르게 반도체 디바이스를 개발하고 검증하며 양산하는 과정을 제품화 하고 저비용으로 테스트하는 것이 업체의 경쟁력을 결정짓는 중요한 요소가 되고 있습니다.

NI STS는 NI가 선도하고 있는 PXI와 모듈형 계측기 기술을 집약한 저비용의 반도체 양산 테스터입니다. PXI 시스템이 가지고 있는 정밀한 측정과 동기화 기능, 확장성을 모두 유지하고 반도체 테스트에 필요한 병렬 테스트, 핸들러/프로버 인터페이스, STDF 데이터 포맷 지원등을 할 수 있는 소프트웨어/하드웨어 통합 플랫폼입니다.

또한, 동시에 다수의 RF PA, RF IC, RF Components를 테스트할 수 있도록 RF Port Sub System을 제공하여 최대 48 Ports의 RF ports를 지원함으로서 비용 절감에 효과적인 RF반도체 개발 및 양산 테스트 시스템을 구축할 수 있습니다.

반도체의 설계와 디자인 검증, 양산에 이르기까지 PXI를 사용하여 반도체 개발 기간과 투자 비용을 최적화하는 방법을 소개합니다. 여러분들의 많은 관심과 참여 부탁드립니다.
 

웨비나 상품

National Instruments의 e웨비나를 듣고 설문조사를 작성해 주신 분께 추첨을 통해 LED스탠드 (10명) 로지텍마우스 (5명)를(을) 드립니다.
유익한 웨비나도 들으시고 설문조사를 통해 행운의 기회도 잡으세요.